probecards Nadelkarte semiconductor test halbleiter T.I.P.S. Technical Innovation Physical Solutions | |
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| Wichtige Begriffe: Probecard, Nadelkarte, Semiconductor Test, Micro Contact, Semiconductor, Halbleiter Test, Test Boards, Test Interfaces, Rainer Gaggl, Martin Eberhart, Physikalische Lösungen, Physical Solution, Probecard Maintenance | |
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| Beschreibung: probecards, Nadelkarte, semiconductor test, halbleiter - T.I.P.S. Technical Innovation - Physical Solutions | |
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